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Film morphology and substrate strain contributions to ramp reversal memory in VO2 薄膜形态和基片应变对VO2斜坡逆转记忆的贡献
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期刊:Physical Review Materials 作者:Avital Fried; Elihu Anouchi; Gili Cohen Taguri; Jonathan Shvartzberg; Amos Sharoni 出版日期:2024-01-09 |
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