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Detecting defects that reduce breakdown voltage using machine learning and optical profilometry 使用机器学习和光学轮廓术检测降低击穿电压的缺陷
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期刊:Scientific Reports 作者:James C. Gallagher; Michael A. Mastro; Alan G. Jacobs; Robert Kaplar; Karl D. Hobart; et al 出版日期:2024-03-28 |
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