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 Effects of Interface Traps on Ferroelectric Field-Effect Transistors with Random Crystal Phase Fluctuations 界面陷阱对具有随机晶相涨落的铁电场效应晶体管的影响
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期刊：Fluctuation and Noise Letters 作者：Yubin Wang; Weifeng Lü; Honglei Huo; Shuaiwei Zhao; Xinfeng Zheng 出版日期：2025-03-14 |
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