| 标题 |
First measurements of true charge transfer TDI (Time Delay Integration) using a standard CMOS technology 相关领域
CMOS芯片
噪音(视频)
电荷(物理)
光电二极管
像素
光电子学
电子工程
光学(聚焦)
材料科学
时滞与积分
传输(计算)
电压
计算机科学
物理
电气工程
光学
工程类
人工智能
图像(数学)
量子力学
并行计算
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊: 作者:Henri Bugnet; C. Guicherd; T. Ligozat; F. Mayer; Sergio Pesenti; et al 出版日期:2017-11-20 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)