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 Use of the helium ion microscope in small crack fractography 氦离子显微镜在小裂纹断口成像中的应用
相关领域
断口学
材料科学
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巴黎法
显微镜
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物理
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期刊：Engineering Failure Analysis 作者：Isaac Field; Everson Kandare; Jun Tian; Simon Barter 出版日期：2022-06-06 |
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