| 标题 |
Trapped Energy Level‐Assisted Ultrafast Interfacial Charge Transfer in S‐Scheme Heterojunctions 相关领域
材料科学
飞秒
异质结
超快激光光谱学
开尔文探针力显微镜
载流子
电子转移
吸收(声学)
辐照
化学物理
兴奋剂
分子物理学
X射线光电子能谱
光谱学
原子物理学
电子
光电子学
电子束处理
电子能量损失谱
吸收光谱法
空位缺陷
Crystal(编程语言)
光催化
氟
晶体缺陷
载流子寿命
俘获
超短脉冲
伏打电位
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Small 作者:Songyu Yang; Chuanbiao Bie; Yan Wu; Wei Xia; Kaiqiang Xu; et al 出版日期:2026-02-04 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)