Assessment of interface trapped charge induced threshold voltage hysteresis effect in gate-all-around TFET

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标题	Assessment of interface trapped charge induced threshold voltage hysteresis effect in gate-all-around TFET
网址	http://dx.doi.org/10.1016/j.micrna.2022.207502
DOI	10.1016/j.micrna.2022.207502 doi
其它	期刊：Micro and Nanostructures 作者：Pankaj Kumar; Kalyan Koley; Syed Sadique Anwer Askari; Ashish Maurya; Subindu Kumar 出版日期：2023-03-01
求助人	Et3rnity 在 2026-07-02 20:13:14 发布自安徽，悬赏 10 积分
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