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3D reconstruction and characterization of polycrystalline microstructures using a FIB–SEM system 相关领域
电子背散射衍射
材料科学
方向错误
聚焦离子束
微晶
表征(材料科学)
微观结构
扫描电子显微镜
方向(向量空间)
光学
晶界
复合材料
纳米技术
冶金
几何学
物理
离子
量子力学
数学
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期刊:Materials Characterization 作者:Michael A. Groeber; Brent Kreh Haley; Michael D. Uchic; Dennis M. Dimiduk; Somnath Ghosh 出版日期:2006-03-08 |
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(2025-6-4)