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Investigation of Self-Heating Effects in a 10-nm SOI-MOSFET With an Insulator Region Using Electrothermal Modeling 使用电热模型研究具有绝缘体区域的10-nmSOI-MOS的自热效应
相关领域
MOSFET
绝缘体上的硅
焦耳加热
焦耳效应
材料科学
电场
半导体器件建模
边值问题
凝聚态物理
机械
晶体管
电子工程
光电子学
电气工程
物理
硅
工程类
电压
CMOS芯片
复合材料
量子力学
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Faouzi Nasri; Fraj Echouchene; Mohamed Fadhel Ben Aissa; Irina Graur; Hafedh Belmabrouk 出版日期:2015-07-10 |
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