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Assessing the SCAN functional for deep defects and small polarons in wide band gap semiconductors and insulators 宽带隙半导体和绝缘体中深缺陷和小极化子的扫描泛函评估
相关领域
混合功能
极化子
带隙
半导体
密度泛函理论
电荷(物理)
凝聚态物理
材料科学
物理
光电子学
量子力学
电子
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期刊:Physical review. B./Physical review. B 作者:Darshana Wickramaratne; John L. Lyons 出版日期:2024-06-03 |
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