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 Reliability of UVC LEDs fabricated on AlN/sapphire templates with different threading dislocation densities 不同穿线位错密度AlN/蓝宝石模板上UVC发光二极管的可靠性
相关领域
发光二极管
材料科学
光电子学
蓝宝石
位错
外延
异质结
线程（蛋白质序列）
宽禁带半导体
模板
复合材料
光学
纳米技术
化学
激光器
生物化学
物理
图层（电子）
蛋白质结构
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期刊：Applied Physics Letters 作者：Jan Ruschel; Johannes Glaab; Norman Susilo; Sylvia Hagedorn; Sebastian Walde; et al 出版日期：2020-12-14 |
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