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Stress-Aware Performance Optimization in Gate-All-Around NSFET and Beyond 全栅极NSFET及其他领域的应力感知性能优化
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Feiyu Teng; Xiangyu Yan; Jianxiang Jin; Jiacheng Sun; Runsheng Wang; et al 出版日期:2025-05-21 |
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