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Presence of High Density Positive Fixed Charges at ALD–Al2O3/GaN (cap) Interface for Efficient Recovery of 2‐DEG in Ultrathin‐Barrier AlGaN/GaN Heterostructure 超薄势垒AlGaN/GaN异质结构中Ald-Al2O3/GaN(cap)界面存在高密度正固定电荷以有效恢复2-DEG
相关领域
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期刊:physica status solidi (b) 作者:H. R. Zhang; Sen Huang; Fuqiang Guo; Kexin Deng; Qimeng Jiang; et al 出版日期:2024-06-22 |
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