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 Forward bias stress-induced degradation mechanism in β-Ga2O3 SBDs: A trap-centric perspective β-Ga2O3 SBDs正向偏压应力诱导的降解机制：以陷阱为中心的观点
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期刊：Applied Physics Letters 作者：Sijie Bu; Yingzhe Wang; Xuefeng Zheng; Shaozhong Yue; Danmei Lin; et al 出版日期：2025-03-01 |
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