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 A Self-Consistent Approach Based on Bayesian Deconvolution for Trapping Time Constant Analysis: A Demonstration to Analyze ΔV TH Transients in p-GaN Gate Power HEMTs 相关领域
俘获
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Shivendra Kumar Singh; Tian-Li Wu; Yogesh Singh Chauhan 出版日期：2024-01-26 |
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(2025-6-4)
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