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  Characterization of Dielectric Relaxation and Reliability of High-k MIM Capacitor Under Constant Voltage Stress 相关领域
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期刊：JSTS Journal of Semiconductor Technology and Science 作者：Ho‐Young Kwak; Sung-Kyu Kwon; Hyuk-Min Kwon; Seung-Yong Sung; Su Lim; et al 出版日期：2014-10-30 |
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