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 Total Ionizing Dose effects in 130-nm commercial CMOS technologies for HEP experiments 用于HEP实验的130nm商业CMOS技术中的总电离剂量效应
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期刊：Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A Accelerators Spectrometers Detectors and Associated Equipment 作者：L. Gonella; F. Faccio; Marco Silvestri; Simone Gerardin; D. Pantano; et al 出版日期：2007-08-01 |
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