| 标题 |
 Power-On Reset Circuit in 180-nm CMOS With Brownout Detection, Stable Switching Points, Long Reset Pulse Duration, and Resilience to Switching Noise 180 nm CMOS上电复位电路，具有断电检测、稳定开关点、长复位脉冲持续时间和抗开关噪声能力
相关领域
CMOS芯片
噪音（视频）
重置（财务）
电气工程
计算机科学
算法
算术
拓扑（电路）
数学
工程类
人工智能
金融经济学
图像（数学）
经济
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Very Large Scale Integration Systems 作者：Andrey A. Antonov; Maksim S. Karpovich; Vladislav Yu. Vasilyev 出版日期：2022-10-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
shinysparrow
CharlotteBlue
大神
psyduck
gjww
LH0106
cctv18
紫金大萝卜
laughingsir
SOLOMON
大模型
纳兰若微
Fairy
充电宝
完美世界
老鼠咕噜
深情安青
万能图书馆
丘比特
酷波er
皖公网安备34019202002308
