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Atomic-scale in situ TEM investigation of electron beam-induced repair of multiple defects in α -Ga2O3 heterogeneous epitaxial single-crystal films 相关领域
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领域(数学)
薄膜
扫描透射电子显微镜
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Jiatong Fan; Qing Zhu; Luyao Gao; Chao Chen; Yang Hu; et al 出版日期:2025-09-30 |
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