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  The at-wavelength metrology facility for UV- and XUV-reflection and diffraction optics at BESSY-II BESSY-II的UV和XUV反射和衍射光学的at波长计量设施
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期刊：Journal of Synchrotron Radiation 作者：F. Schäfers; Peter Bischoff; F. Eggenstein; A. Erko; A. Gaupp; et al 出版日期：2015-12-22 |
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