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Low-Frequency Noise-Based Mechanism Analysis of Endurance Degradation in Al/αTiOx/Al Resistive Random Access Memory Devices 基于低频噪声的Al/α TiOx/Al阻性随机存储器耐久性退化机理分析
相关领域
电阻随机存取存储器
噪音(视频)
材料科学
次声
电阻式触摸屏
降级(电信)
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凝聚态物理
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期刊:Materials 作者:Jung‐Kyu Lee; Juyeong Pyo; Sungjun Kim 出版日期:2023-03-14 |
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