Competing Failure Mechanisms impacting Long-Term Drift of a Bandgap Voltage Reference during Operational Life Tests

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标题	Competing Failure Mechanisms impacting Long-Term Drift of a Bandgap Voltage Reference during Operational Life Tests
网址	https://doi.org/10.1109/IRPS61424.2026.11499182
DOI	10.1109/IRPS61424.2026.11499182 doi
其它	期刊：作者：IEEE International Symposium on Reliability Physics 2026; Sonia Ben-Dhia; Edinso Marina; René Theodora Hubertus Rongen; P. Tounsi; et al 出版日期：2026-03-07
求助人	锤子米在 2026-10-12 22:22:49 发布自浙江，悬赏 10 积分
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