Measurement and Quantitative Analysis of Oxide Trap Evolution in Power SiC Devices

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标题	Measurement and Quantitative Analysis of Oxide Trap Evolution in Power SiC Devices
网址	http://xplorestaging.ieee.org/ielx8/63/11653487/11594935.pdf...
DOI	10.1109/tpel.2026.3710070 doi
其它	期刊：IEEE transactions on power electronics 作者：Jing-Lin Li; Aditya Shekhar; Filip Simjanoski; W. V. van Driel; Guo-Qi Zhang 出版日期：2026-11-01
求助人	萍子在 2026-10-27 19:53:00 发布自浙江，悬赏 10 积分
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