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 Experimental and Simulation Study of Single-Event Leakage Current Degradation and Damage Mechanism in 4H-SiC PiN Diodes 4H-SiC PiN二极管单事件漏电流退化及损伤机理的实验与仿真研究
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Keyu Liu; Zhiwen Zhang; Xiao-Yan Tang; Hao Yuan; Yibo Zhang; et al 出版日期：2024-06-25 |
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