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From Accelerated to Operating Conditions: How Trapped Charge Impacts on TDDB in SiO₂ and HfO₂ Stacks 相关领域
随时间变化的栅氧化层击穿
材料科学
电荷(物理)
光电子学
工程物理
电气工程
核工程
物理
工程类
晶体管
电压
栅氧化层
量子力学
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| 其它 |
期刊:IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者:Sara Vecchi; Andrea Padovani; Paolo Pavan; Francesco Maria Puglisi 出版日期:2024-04-01 |
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