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HfO2/Ti Interface Mediated Conductive Filament Formation in RRAM: An Ab Initio Study |
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Boubacar Traore; Philippe Blaise; Benoit Sklenard; Elisa Vianello; Blanka Magyari-Kope; Yoshio Nishi 出版日期:2018 |
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