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Improved Interface Quality and Stability of AlGaN/GaN Metal–Insulator–Semiconductor High-Electron-Mobility Transistors Using N2-Annealed Atomic-Layer-Deposited SiNx Gate Dielectrics |
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期刊:ACS Applied Materials & Interfaces 作者:Kexin Deng; Sen Huang; Xinhua Wang; Qimeng Jiang; Fuqiang Guo; et al 出版日期:2026 |
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(2025-6-4)