| 标题 |
A novel in-situ approach to monitor the variations in the on-resistance of power transistors during switching operation 一种原位监测功率晶体管开关操作过程中导通电阻变化的新方法
相关领域
占空比
晶体管
示波器
功率半导体器件
功率MOSFET
功率(物理)
电压
电气工程
热阻
正在测试的设备
可靠性(半导体)
电子工程
MOSFET
材料科学
光电子学
工程类
热的
物理
气象学
量子力学
散射参数
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Microelectronics Reliability 作者:Anna Franca Cavaliere; Carlo De Santi; Gaudenzio Meneghesso; Enrico Zanoni; Matteo Meneghini 出版日期:2023-10-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|