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Historical trend in alpha-particle induced soft error rates of the Alpha/sup TM/ microprocessor |
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期刊:2001 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 39th Annual (Cat. No.00CH37167) 作者:N. Seifert; D. Moyer; N. Leland; R. Hokinson 出版日期:2002-11-13 |
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