| 标题 |
Reliability Strategies for a-IGZO Thin-Film Transistors Under Stress Environments 相关领域
材料科学
可靠性(半导体)
薄膜晶体管
压力(语言学)
制作
晶体管
阈值电压
二极管
有机发光二极管
阈下传导
氧化物
无定形固体
电压
撞击电离
电子迁移率
光电子学
降级(电信)
电子工程
灵活的显示器
阈下斜率
工程物理
逻辑门
亮度
功率半导体器件
发光二极管
带隙
载流子
过程(计算)
电气工程
溶解过程
|
| 网址 | |
| DOI |
暂未提供,该求助的时间将会延长,查看原因?
|
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)