| 标题 |
Investigations on TID Effects-Induced Parasitic Transistors in GaN Cascode Power Transistors |
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10.1109/tns.2026.3652233
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| 其它 |
期刊:IEEE Transactions on Nuclear Science 作者:H. Couillaud; G. Assaillit; D. Poujols; G. Hubert; L. Artola; et al 出版日期:2026-04-01 |
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(2025-6-4)