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Dynamic Voltage Stress Sensing Circuits for Screening Out Early Device Reliability Issues in Advanced Technology Nodes |
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期刊:2021 IEEE Asian Solid-State Circuits Conference (A-SSCC) 作者:Ghil-Geun Oh; Min-Hye Ho; Yeon-Jung Shin; Jae-Wook Choi; Ju-Youn Kim; et al 出版日期:2021-11-07 |
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