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Electron Microscopic Studies of Single-Crystal Silicon after Irradiation with Low-Energy Xenon Ions |
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期刊:Semiconductors 作者:O. V. Podorozhniy; G. S. Kireev; V. A. Kuznetsov; A. R. Reshetnyak; A. V. Rumyantsev 出版日期:2026 |
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(2025-6-4)