| 标题 |
Investigating Patent Value and Litigation Probability of Global Technology Standards 相关领域
标准化
专利侵权
价值(数学)
产品(数学)
发明
服务(商务)
业务
订单(交换)
精算学
风险分析(工程)
工程类
计算机科学
知识产权
营销
财务
数学
机器学习
电气工程
操作系统
几何学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:IEEE Transactions on Engineering Management 作者:Pei-Chun Lee 出版日期:2022-10-14 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|