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Exploring nanoscale metallic multilayer Ta/Cu films: Structure and some insights on deformation and strengthening mechanisms 相关领域
材料科学
纳米尺度
变形(气象学)
材料的强化机理
金属
纳米技术
冶金
复合材料
微观结构
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| 其它 |
期刊:Materials Characterization 作者:Daniel Karpinski; Tomáš Polcar; Andrey Bondarev 出版日期:2024-04-27 |
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