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 Dynamic Reverse Bias Test Circuit for SiC MOSFET with Adjustable dV ds/dt dV ds/dt可调的SiC MOSFET动态反向偏置测试电路
相关领域
MOSFET
反向偏压
材料科学
光电子学
逻辑门
电气工程
电子工程
晶体管
电压
工程类
二极管
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| 其它 |
期刊： 作者：Zuo Lu-Wei; Huibo Meng; Zhou Ze; Bin Yu; Luo Haoze; et al 出版日期：2024-05-17 |
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