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 PMOS Leakage Reduction Through Sige Morphology & IMP Profile Fine Tune 通过Sige形貌和IMP轮廓微调减少PMOS泄漏
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期刊： 作者：Wenzhao Fu; Bohan Jiang; Cong Lin; Ying Xu 出版日期：2024-03-17 |
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