标题 |
[高分]
![]() 后跟裂纹失效的铝丝键合可靠性模型
相关领域
引线键合
材料科学
结构工程
焊接
可靠性(半导体)
铝
复合材料
流离失所(心理学)
有限元法
互连
限制
法律工程学
功率(物理)
机械工程
工程类
电气工程
炸薯条
物理
心理学
电信
量子力学
心理治疗师
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Microelectronics Reliability 作者:S. Ramminger; N. Seliger; G. Wachutka 出版日期:2000-08-01 |
求助人 | |
下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|