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Morphological characterization of ion-sputtered C–Ag, C/C–Ag and Ag/C films by GISAXS |
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| DOI |
10.1107/s0021889898011996
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期刊:Journal of Applied Crystallography 作者:D. Babonneau; A. Naudon; D. Thiaudière; S. Lequien 出版日期:1999-04-01 |
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(2025-6-4)