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In Situ Characterization of Ferroelectric HfO2 During Rapid Thermal Annealing |
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期刊:physica status solidi (RRL) – Rapid Research Letters 作者:Vijay Kris Narasimhan; Martin E. McBriarty; Donata Passarello; Valerio Adinolfi; Michael F. Toney; et al 出版日期:2021-02-09 |
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