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HEFT-DETR: A chip defect detection method based on hierarchical edge-Sensing feature transformation technology HEFT-DETR:一种基于分层边缘感知特征变换技术的芯片缺陷检测方法
相关领域
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| 其它 |
期刊:Digital Signal Processing 作者:Wenjing Zhou 出版日期:2025-11-25 |
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