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 Cryogenic electron microscopy and tomography for beam-sensitive materials 束敏感材料的低温电子显微镜和层析成像
相关领域
材料科学
断层摄影术
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显微镜
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显微镜
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期刊：Nature Reviews Physics 作者：Zewen Zhang; Robert Sinclair; Wah Chiu 出版日期：2025-12-05 |
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