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Substrate Biasing Effect in a High-Voltage Monolithically-Integrated GaN-on-SOI Half Bridge With Partial Recessed-Gate HEMTs 具有部分凹栅HEMTs的高压单片集成GaN-on-SOI半桥中的衬底偏置效应
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Da Wang; Li Zheng; Xinhong Cheng; Lingyan Shen; Xiaobo Liu; et al 出版日期:2023-04-26 |
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