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标题
A Novel Model of the Aging Effect on the ON-State Resistance of SiC Power MOSFETs for High-Accuracy Package-Related Aging Evaluation
用于高精度封装相关老化评估的老化对SiC功率MOSFET导通电阻影响的新模型
相关领域
计算机科学 人工智能
网址
DOI
10.1109/tie.2022.3212405 doi
其它 期刊:IEEE Transactions on Industrial Electronics
作者:Qinghao Zhang; Pinjia Zhang
出版日期:2022-10-12
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厉害的猫 在 2025-12-06 15:13:23 发布自广西,悬赏 10 积分
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