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A Novel Model of the Aging Effect on the ON-State Resistance of SiC Power MOSFETs for High-Accuracy Package-Related Aging Evaluation 用于高精度封装相关老化评估的老化对SiC功率MOSFET导通电阻影响的新模型
相关领域
计算机科学
人工智能
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期刊:IEEE Transactions on Industrial Electronics 作者:Qinghao Zhang; Pinjia Zhang 出版日期:2022-10-12 |
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