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 Scalable High-Voltage Pass Transistor Strustures: Physical-based and Variation-Aware Evaluation Toward 1000 Layer 3D NAND Flash 相关领域
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期刊： 作者：Namju Kim; Hyeun Woo Shin; Chae Eun Kim; Woo Cheol Shin; Suk‐Kang Sung; et al 出版日期：2026-03-22 |
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