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 The Effects of Taper-Angle on the Electrical Characteristics of Vertical NAND Flash Memories 锥角对垂直NAND闪存电学特性的影响
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期刊：IEEE Electron Device Letters 作者：Kee Tae Kim; Sung Woo An; Hyun Soo Jung; Keon‐Ho Yoo; Tae Whan Kim 出版日期：2017-08-31 |
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