Scanning Capacitance Microscopy of Dopants in III-V Semiconductors

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标题	Scanning Capacitance Microscopy of Dopants in III-V Semiconductors III-V族半导体中掺杂剂的扫描电容显微术相关领域掺杂剂材料科学电容半导体显微镜扫描电容显微镜光电子学纳米技术兴奋剂扫描电子显微镜扫描共焦电子显微镜光学化学复合材料物理物理化学电极
网址	https://doi.org/10.1017/s1431927600023321
DOI	10.1017/s1431927600023321 doi
其它	期刊：Microscopy and Microanalysis 作者：D. V. Lang 出版日期：1998-07-01
求助人	hhhh 在 2025-03-10 17:41:15 发布自上海，悬赏 10 积分
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