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 Wafer Scale III-Nitride Deep-Ultraviolet Vertical-Cavity Surface-Emitting Lasers Featuring Nanometer-Class Control of Cavity Length |
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期刊：Adv Sci (Weinh) 作者：Ji C, Wang J, Xu F, Zhang L, Lang J, Zhang Z, Tan F, Ji C, Zhang J, Zhang E, Kang X, Qin Z, Ju G, Wu J, Yang X, Tang N, Wang X, Ge W, Shen B 出版日期：2025-12-21 |
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