| 标题 |
Failure Analysis of A16 GAA Device with BSPDN Architecture Using Electron Beam Probing |
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| DOI |
10.31399/asm.cp.istfa2025p0527
doi
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期刊:International Symposium for Testing and Failure Analysis 作者:J. H. Lin; Nathan Ke; M.Y. Tsai; S. H. Yeh; Han Wen Cheng; et al 出版日期:2025-11-16 |
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(2025-6-4)