| 标题 |
Static Characteristics and Avalanche Robustness of SiC Mosfet With P-Well Surface Doping Investigation |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:2024 IEEE International Conference on IC Design and Technology (ICICDT) 作者:Zijie Lin; Jingang Li; Zhaoyi Wang; Maoqing Ling; Wen Liu; Kain Lu Low 出版日期:2024 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)